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產(chǎn)品中心熱電電磁測(cè)試儀TFA-薄膜分析儀
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林賽斯TFA L59 薄膜分析儀，是一個(gè)高度集成的測(cè)量平臺(tái)。其獨(dú)特的預(yù)結(jié)構(gòu)化芯片設(shè)計(jì)，支持對(duì)通過(guò)多種方法制備的5nm至25μm薄膜，在單次測(cè)量中（-160°C至280°C）即可同時(shí)、同向獲取面內(nèi)導(dǎo)熱系數(shù)、電導(dǎo)率及塞貝克系數(shù)等關(guān)鍵參數(shù)，極大簡(jiǎn)化了半導(dǎo)體、陶瓷等薄膜材料的研發(fā)表征流程。
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